|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect Reduction in AlN Epilayers Grown by MOCVD via Intermediate-Temperature Interlayers |
| Auteur: |
Chen, Shengchang Li, Yang Ding, Yanyan Li, Senlin Zhang, Min Wu, Zhihao Fang, Yanyan Dai, Jiangnan Chen, Changqing |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 44 (2014) nr. 1 pagina's 217-221 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |