|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Structure–Property Correlations in CoFe–SiO2 Nanogranular Films Utilizing x-Ray Photoelectron Spectroscopy and Small-Angle Scattering Techniques |
| Auteur: |
Ohodnicki, P.R. Sokalski, V. Baltrus, J. Kortright, J.B. Zuo, X. Shen, S. DeGeorge, V. McHenry, M.E. Laughlin, D.E. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 43 (2013) nr. 1 pagina's 142-150 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |