|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
In Situ Temperature Measurement of GaN-Based Ultraviolet Light-Emitting Diodes by Micro-Raman Spectroscopy |
| Auteur: |
Wang, Yaqi Xu, Hui Alur, Siddharth Sharma, Yogesh Cheng, An-Jen Kang, Kilho Josefsberg, Ryan Park, Minseo Sakhawat, Sharukh Guha, Arindra N. Akpa, Okechukwu Akavaram, Saritha Das, Kalyankumar |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 39 (2010) nr. 11 pagina's 2448-2451 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |