|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
A Scanning Probe Microscopy Study of Cd1−xZnxTe |
| Auteur: |
Egan, C. K. Dabrowski, P. Klusek, Z. Brinkman, A. W. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 38 (2009) nr. 8 pagina's 1528-1532 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |