|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
A Novel Stress Characterization Technique for the Development of Low-Stress Ohmic Contacts to HgCdTe |
| Auteur: |
D’Orsogna, D. Lamarre, P. Bellotti, E. Barbone, P. E. Smith, F. Fulk, C. LoVecchio, P. Reine, M. B. Tobin, S. P. Markunas, J. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 38 (2009) nr. 8 pagina's 1698-1706 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |