|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Cathodoluminescence spectroscopy of deep defect levels at the ZnSe/GaAs interface with a composition-control interface layer |
| Auteur: |
Schäfer, J. Young, A. P. Levin, T. M. Brillson, L. J. Paggel, J. J. Vanzetti, L. Franciosi, A. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 28 (1999) nr. 7 pagina's 881-886 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |