|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Crystallographic defects in thermally oxidized wafer bonded silicon on insulator (SOI) substrates |
| Auteur: |
Giles, Luis Felipe Kunii, Yasuo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 4 pagina's 372-376 |
| Jaar: |
1999-04-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |