|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation between reliability and oxidation temperature for ultra-dry ultrathin silicon oxide films |
| Auteur: |
Yamada, Hiroshi |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 28 (1999) nr. 4 pagina's 377-384 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |