|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
The effects of reactive ion etching-induced damage on the characteristics of ohmic contacts to n-Type GaN |
| Auteur: |
Ping, A. T. Chen, Q. Yang, J. W. Khan, M. Asif Adesida, I. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 27 (1998) nr. 4 pagina's 261-265 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |