|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative Auger electron spectroscopy and Rutherford backscattering of potassium-implanted silicon, silica and sodium trisilicate |
| Auteur: |
Burrow, Brad J. Armstrong, Neal R. Quinn, Rod K. Bunker, Bruce C. Arnold, George W. Salmi, Doug R. |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 20 (1984) nr. 1-2 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1984 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |