|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Electronic and atomic structure studies of tin oxide layers using X-ray absorption near edge structure spectroscopy data modelling |
| Auteur: |
Manyakin, M.D. Kurganskii, S.I. Dubrovskii, O.I. Chuvenkova, O.A. Domashevskaya, E.P. Ryabtsev, S.V. Ovsyannikov, R. Parinova, E.V. Sivakov, V. Turishchev, S. Yu. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 99 (2019) nr. C pagina's 28-33 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |