Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Experimental and numerical analysis of VTH and RON drifts in E-mode GaN HEMTs during switch-mode operation
 
 
Titel: Experimental and numerical analysis of VTH and RON drifts in E-mode GaN HEMTs during switch-mode operation
Auteur: Chini, Alessandro
Iucolano, Ferdinando
Verschenen in: Materials science in semiconductor processing
Paginering: Jaargang 98 () nr. C pagina's 77-80
Jaar: 2019
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland