|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of high k-dielectrics for 4H-SiC MIS devices |
| Auteur: |
Khosa, R.Y. Chen, J.T. Winters, M. Pálsson, K. Karhu, R. Hassan, J. Rorsman, N. Sveinbjӧrnsson, E.Ö. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 98 () nr. C pagina's 55-58 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |