|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Interaction influence of S/D GeSi lattice mismatch and stress gradient of CESL on nano-scaled strained nMOSFETs |
| Auteur: |
Lee, Chang-Chun Kuo, Yen-Ting Liu, Chuan-Hsi |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 70 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |