|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 138 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of density-of-states in indium zinc oxide thin-film transistor from temperature stress studies |
| Auteur: |
Ding, Xingwei Zhang, Jianhua Shi, Weimin Zhang, Hao Huang, Chuanxin Li, Jun Jiang, Xueyin Zhang, Zhilin |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 27 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 138 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |