|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Indium-zinc-tin-oxide thin-film-transistor reliability enhancement using fluoridation with CF4 reactive sputtering |
| Auteur: |
Fan, Ching-Lin Hsin, Tzu-Chun Yu, Xiang-Wei Lin, Zhe-Chen |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |