|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 45 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness dependence of dielectric properties of TlGaS2 thin films |
| Auteur: |
Cicek, Z. Yakut, S. Deger, D. Bozoglu, D. Mustafaeva, S. Ismailova, P. Hasanov, A.A. Ulutas, K. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 166 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 45 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |