|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of stress on fluorite-structured ferroelectric thin films for semiconductor devices |
| Auteur: |
Lee, Younghwan Jeong, Hyun Woo Kim, Se Hyun Yang, Kun Park, Min Hyuk |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 160 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |