|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental insights toward carrier localization in in-rich InGaAs/InP as candidate for SWIR detection: Microstructural analysis combined with optical investigation |
| Auteur: |
Ben Arbia, Marwa Demir, Ilkay Kaur, Navpreet Saidi, Faouzi Zappa, Dario Comini, Elisabetta Altuntaş, Ismail Maaref, Hassen |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 153 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |