|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Determining the potential barrier presented by the interfacial layer from the temperature induced I–V characteristics in Al/p-Si Structure with native oxide layer |
| Auteur: |
Özdemir, M.C. Sevgili, Ö. Orak, I. Turut, A. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 125 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |