|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of edge-to-edge matching model to understand the in-plane texture of TiSi2 (C49) thin films on (001)Si surface |
| Auteur: |
Zhang, M.-X. Kelly, P.M. |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 55 (2006) nr. 7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |