|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray microstructural analysis of nanocrystalline TiZrN thin films by diffraction pattern modeling |
| Auteur: |
Escobar, D. Ospina, R. Gómez, A.G. Restrepo-Parra, E. Arango, P.J. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 88 (2014) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 16 gevonden artikelen
| << vorige |