|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of Habit Planes Using Trace Widths in TEM |
| Auteur: |
Zhang, M.-X Kelly, P.M Gates, J.D |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 43 (1999) nr. 1 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |