|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 69 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Three dimensional microstructural characterization of nanoscale precipitates in AA7075-T651 by focused ion beam (FIB) tomography |
| Auteur: |
Singh, Sudhanshu S. Loza, Jose J. Merkle, Arno P. Chawla, Nikhilesh |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 118 (2016) nr. C pagina's 102-111 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 69 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |