|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Integrated system and control design of a one DoF nano-metrology platform |
| Auteur: |
Saathof, Rudolf Thier, Markus Hainisch, Reinhard Schitter, Georg |
| Verschenen in: |
Mechatronics |
| Paginering: | Jaargang 47 (2017) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |