|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectroscopic ellipsometry technique as a materials characterization tool for mechatronic systems—The case of composition and doping concentration monitoring in SBN crystals |
| Auteur: |
Dorywalski, Krzysztof Maciejewski, Igor Krzyżyński, Tomasz |
| Verschenen in: |
Mechatronics |
| Paginering: | Jaargang 37 (2016) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |