|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Te inclusion-induced electrical field perturbation in CdZnTe single crystals revealed by Kelvin probe force microscopy |
| Auteur: |
Gu, Yaxu Jie, Wanqi Li, Linglong Xu, Yadong Yang, Yaodong Ren, Jie Zha, Gangqiang Wang, Tao Xu, Lingyan He, Yihui Xi, Shouzhi |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 88 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |