|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on the bias-dependent effects of proton-induced damage in CdZnTe radiation detectors using ion beam induced charge microscopy |
| Auteur: |
Gu, Yaxu Jie, Wanqi Rong, Caicai Xu, Lingyan Xu, Yadong Lv, Haoyan Shen, Hao Du, Guanghua Guo, Na Guo, Rongrong Zha, Gangqiang Wang, Tao Xi, Shouzhi |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 88 (2016) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |