|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of probe inaccuracies on the quantitative model-based analysis of high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy images |
| Auteur: |
Martinez, G.T. De Backer, A. Rosenauer, A. Verbeeck, J. Van Aert, S. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 63 (2014) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |