|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ micro-Raman analysis and X-ray diffraction of nickel silicide thin films on silicon |
| Auteur: |
Bhaskaran, M. Sriram, S. Perova, T.S. Ermakov, V. Thorogood, G.J. Short, K.T. Holland, A.S. |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 40 (2009) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |