|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative electron diffraction analysis of strain relaxation in AlxGa1-xN materials in the microelectronics industry: 4D-STEM approach vs. TEM-based N-PED solution |
| Auteur: |
Drouillas, Estève Mattei, Jean-Gabriel Warot-Fonrose, Bénédicte |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 190 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |