Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
 
 
  Comparative electron diffraction analysis of strain relaxation in AlxGa1-xN materials in the microelectronics industry: 4D-STEM approach vs. TEM-based N-PED solution
 
 
Titel: Comparative electron diffraction analysis of strain relaxation in AlxGa1-xN materials in the microelectronics industry: 4D-STEM approach vs. TEM-based N-PED solution
Auteur: Drouillas, Estève
Mattei, Jean-Gabriel
Warot-Fonrose, Bénédicte
Verschenen in: Micron
Paginering: Jaargang 190 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2025
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland