|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomistic comparative study of VUV photodeposited silicon nitride on InP(100) by simulation and atomic force microscopy: discrete representation and topological analysis |
| Auteur: |
Flicstein, J Guillonneau, E Marquez, J How Kee Chun, L.S Maisonneuve, D David, C Wang, Zh.Zh Palmier, J.F Courant, J.L |
| Verschenen in: |
Computational materials science |
| Paginering: | Jaargang 17 (2000) nr. 2-4 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |