|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural analysis of a-C:H and a-C:H:Si films under high-pressure and high-temperature by synchrotron X-ray diffraction |
| Auteur: |
Hirayama, Tomoko Eguchi, Yuri Saeki, Koichi Matsuoka, Takashi Kikegawa, Takumi |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 70 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |