|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 40 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Optical measure of disorder: Why Urbach analysis works for amorphous silicon but fails for amorphous carbon |
| Auteur: |
Tsu, David V. Schuelke, Thomas Slagter, John |
| Verschenen in: |
Diamond and related materials |
| Paginering: | Jaargang 110 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 40 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |