|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 129 gevonden artikelen
| Titel: |
Efficacy of Raman mapping over ellipsometric spectroscopy and XRD for characterization of structurally heterogeneous PLD nc-Si thin films |
| Auteur: |
Dey, Partha P. Kesarwani, Rahul Khare, Alika |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 84 (2018) nr. C pagina's 221-226 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 129 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |