|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 196 gevonden artikelen
| Titel: |
Current-induced degradation process in (In)AlGaN-based deep-UV light-emitting diode fabricated on AlN/sapphire template |
| Auteur: |
Dalapati, Pradip Yamamoto, Kosuke Egawa, Takashi Miyoshi, Makoto |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 109 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 196 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |