|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the layered structure in Mo/Si multilayers by grazing incidence X-ray reflectometry |
| Auteur: |
Yakshin, A.E Louis, E Görts, P.C Maas, E.L.G Bijkerk, F |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 283 (2000) nr. 1-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |