|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 82 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Si/Ge interfaces by diffuse X-ray scattering in the region of total external reflection |
| Auteur: |
Schlomka, J.-P. Fitzsimmons, M.R. Pynn, R. Stettner, J. Seeck, O.H. Tolan, M. Press, W. |
| Verschenen in: |
Physica. B, Condensed matter |
| Paginering: | Jaargang 221 (1996) nr. 1-4 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 82 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |