|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 73 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of implanted surface layers in ion-thinned semiconductors by transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Jacob, D. Lefebvre, A. |
| Verschenen in: |
Materials science and engineering. B, Solid-state materials for advanced technology |
| Paginering: | Jaargang 101 (2003) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 73 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |