|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Erratum to “Depth-profiling of vertical sidewall nanolayers on structured wafers by grazing incidence X-ray fluorescence” [Spectrochim. Acta Part B 63 (2008) 1359–1364] |
| Auteur: |
Hönicke, P. Beckhoff, B. Kolbe, M. List, S. Conard, T. Struyff, H. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 64 (2009) nr. 3 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |