|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of low Z elements on Si wafer surfaces with undulator radiation induced total reflection X-ray fluorescence at the PTB beamline at BESSY II |
| Auteur: |
Streli, C. Pepponi, G. Wobrauschek, P. Beckhoff, B. Ulm, G. Pahlke, S. Fabry, L. Ehmann, Th. Kanngießer, B. Malzer, W. Jark, W. |
| Verschenen in: |
Spectrochimica acta. Part B, Atomic spectroscopy |
| Paginering: | Jaargang 58 (2003) nr. 12 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |