|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science |
| Auteur: |
Hutchison, John L. Titchmarsh, John M. Cockayne, David J.H. Doole, Ron C. Hetherington, Crispin J.D. Kirkland, Angus I. Sawada, H. |
| Verschenen in: |
Ultramicroscopy |
| Paginering: | Jaargang 103 (2005) nr. 1 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |