|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparison of electrostatic discharge models and failure signatures for CMOS integrated circuit devices |
| Auteur: |
Kelly, M. Servais, G. Diep, T. Lin, D. Twerefour, S. Shah, G. |
| Verschenen in: |
Journal of electrostatics |
| Paginering: | Jaargang 38 (1996) nr. 1-2 pagina's 19 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| volgende >> |