|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 129 gevonden artikelen
| Titel: |
Elemental and chemical microanalysis of silicon surfaces by reflected electron energy loss microscopy and scanning Auger microscopy |
| Auteur: |
Paparazzo, E |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 76 (1995) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 129 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |