Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
 
 
  Experimental characterization of low-frequency noise in power MOSFETs for defectiveness modelling and technology assessment
 
 
Titel: Experimental characterization of low-frequency noise in power MOSFETs for defectiveness modelling and technology assessment
Auteur: Magnone, Paolo
Traverso, Pier Andrea
Barletta, Giacomo
Fiegna, Claudio
Verschenen in: Measurement
Paginering: Jaargang 52 (2014) nr. C pagina's 8 p.
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland