|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Optically interferometric roughness measurements for spherical surfaces by processing two microscopic interferograms |
| Auteur: |
Chen, Xiaomei Grattan, K.T.V. Dooley, R.Larry |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 32 (2002) nr. 2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |