|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Deformation and wear of pyramidal, silicon-nitride AFM tips scanning micrometre-size features in contact mode |
| Auteur: |
Bloo, M.L. Haitjema, H. Pril, W.O. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 25 (1999) nr. 3 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |