|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 80 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
New IEC standards for the measurement of sheet resistance on large-area graphene using the van der Pauw and the in-line four-point probe methods |
| Auteur: |
Cultrera, Alessandro Serazio, Danilo Fabricius, Norbert Callegaro, Luca |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 236 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 80 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |