|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 127 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect classification on semiconductor wafers using Fisher vector and visual vocabularies coding |
| Auteur: |
Gómez-Sirvent, José L. López de la Rosa, Francisco Sánchez-Reolid, Roberto Morales, Rafael Fernández-Caballero, Antonio |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 202 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 127 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |