|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Capabilities and limitations of interference microscopy for two- and three-dimensional surface-measuring technology |
| Auteur: |
Hillmann, W. Brand, U. Krystek, M. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 19 (1996) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 7 gevonden artikelen
| volgende >> |